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標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備

電壓擊穿測(cè)試儀耐電弧試驗(yàn)儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計(jì)）電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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HCLD-2耐漏電起痕指數(shù)（PTI）測(cè)試儀

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華測(cè)儀器 HCLD-2耐漏電起痕指數(shù)（PTI）測(cè)試儀是根據(jù)耐漏電起痕試驗(yàn)（電痕化指數(shù)試驗(yàn)）的標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定的模擬仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。
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HCLD-III電痕化高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

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電痕化高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH 4 CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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HCLD-III固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

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固體絕緣材料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH 4 CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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HCLD-III工程塑料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-06-05

型號(hào)：HCLD-III

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HCDH-200工程塑料高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸（ 2mm × 5mm ）的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)（30s）定高度（ 35mm ）滴下規(guī)定液滴體積的污染液體（0.1%NH 4 CL），用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測(cè)定其相比電痕化指數(shù)（CT1）和耐電痕化指數(shù)（PT1）。
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HCLD-III反應(yīng)快高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器

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