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真空晶圓退火爐電阻分壓器高壓探頭低頻、變頻電壓擊穿試驗儀絕緣電阻測試系統(tǒng) 多通道電流矩陣模塊鐵電分析儀高壓功率放大器塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學綜合測試系統(tǒng) 半導體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗儀探針臺漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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HCMP多點同步介電性能測試模塊

更新時間：2026-03-27

型號：HCMP

瀏覽量：146

華測儀器HCMP多點同步介電性能測試模塊主要用于評估材料的介電性能與電阻特性，可以搭載阻抗分析儀、高阻計等設備使用。
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HCCT-40H電容器溫度特性測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-26

型號：HCCT-40H

瀏覽量：153

華測儀器HCCT-40H電容器溫度特性測試系統(tǒng)是將環(huán)境試驗箱與評估系統(tǒng)相結合，效率采集數(shù)據(jù)的自動化多通道系統(tǒng)。
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HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測試儀

更新時間：2026-03-26

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：154

華測儀器HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測試儀是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。
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HCVD系列電阻分壓器

更新時間：2026-04-01

型號：HCVD系列

瀏覽量：141

華測儀器HCVD系列電阻分壓器提供了一種可測量100kVdc、200kVdc或400kVdc 的高電壓的簡便方法，其精度高于0.5%。此系列的分壓器要與高阻抗數(shù)字電壓表配合使用。
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Huace介質(zhì)絕緣性能劣化評估測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-25

型號：Huace

瀏覽量：166

華測儀器介質(zhì)絕緣性能劣化評估測試系統(tǒng)通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。
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HCMP多通道介電絕緣電阻測試模塊

更新時間：2026-03-24

型號：HCMP

瀏覽量：135

華測儀器HCMP多通道介電絕緣電阻測試模塊此測試模塊精度高、穩(wěn)定性強、實現(xiàn)智能化與自動化、可靠耐用、模塊化設計，可用于多通道介電與電阻測量，使其在材料科學、新能源、半導體領域中被普遍應用。
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HuacePEA 空間電荷測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-23

型號：Huace

瀏覽量：152

華測儀器PEA 空間電荷測試系統(tǒng)電聲脈沖法是一種無損的空間電荷測量技術，它用于描述聚合物絕緣材料內(nèi)部的空間電荷分布、積累及其整體行為。
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HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數(shù)電阻測試儀

更新時間：2026-03-20

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：178

華測儀器HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數(shù)電阻測試儀測量半導體、方鈷礦等熱電材料的塞貝克系數(shù)與電導率，計算ZT值(熱電優(yōu)值)；評估材料在高溫或特定環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉(zhuǎn)換效率。
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