電子連接的可靠性，藏在每一絲微小電阻里，近期我司新推出了Huace DT-L3導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)，適用于 PCB 與封裝焊接、元器件可靠性、柔性線路及特殊材料、通用連接結(jié)構(gòu)等領(lǐng)域，可對(duì)各類導(dǎo)通、焊接、接合、接觸電阻及耐用性等進(jìn)行評(píng)估檢測(cè)。該產(chǎn)品支持128測(cè)試通道（可定制至960通道），分辨率為100μΩ。

該產(chǎn)品可在低高溫交替的溫度循環(huán)環(huán)境中，采用4端子測(cè)試法，對(duì)焊點(diǎn)、連接器接點(diǎn)等導(dǎo)體連接部位開展多通道高準(zhǔn)度微小電阻連續(xù)監(jiān)測(cè)，以此評(píng)估電子裝配工藝的規(guī)范性及材料本身的連接可靠性。

配套操作軟件可實(shí)現(xiàn)測(cè)量過(guò)程的自動(dòng)化運(yùn)行，實(shí)時(shí)采集并記錄各項(xiàng)測(cè)試數(shù)據(jù)，通過(guò)圖表直觀呈現(xiàn)微小電阻的動(dòng)態(tài)變化趨勢(shì)及試驗(yàn)箱的溫度波動(dòng)情況。